Three-dimensional tomography of single charge inside dielectric materials using electrostatic force microscopy
- Riedel, C.
- Arinero, R.
- Alegria, A.
- Colmenero, J.
- Saenz, J.J.
ISSN: 0272-9172
ISBN: 9781627482325
Any de publicació: 2012
Volum: 1421
Pàgines: 1-6
Tipus: Aportació congrés