Dielectric spectroscopy at the nanoscale by atomic force microscopy: A simple model linking materials properties and experimental response

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Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 1089-7550 0021-8979

Año de publicación: 2014

Volumen: 115

Número: 18

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.4875836 GOOGLE SCHOLAR