A pulsed S-parameters measurement setup for the non-linear characterization of FETs and bipolar power transistors

  1. Teyssier, J.P.
  2. Campovecchio, M.
  3. Sommet, C.
  4. Portilla, J.
  5. Quere, R.
Actas:
1993 23rd European Microwave Conference, EuMA 1993

Año de publicación: 1993

Páginas: 489-493

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/EUMA.1993.336603 GOOGLE SCHOLAR

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