Método para detectar e identificar errores en procesos de fabricación

    Inventores/as:
  1. Nestor Arana Arexolaleiba
  2. Eneko Sáenz de Argandoña Fernández de Gorostiza
  3. GARCÍA CRESPO, Carlos
  4. Alberto Izaguirre Altuna
  5. AZTIRIA GOENAGA, Asier
  1. Universidad de Mondragón/Mondragon Unibertsitatea
    info

    Universidad de Mondragón/Mondragon Unibertsitatea

    Mondragón, España

ES
Publicación principal:

ES2424808A1 (08-10-2013)

Otras Publicaciones:

ES2424808B1 (05-08-2014)

Solicitudes:

P201130082 (25-01-2011)

Imagen de la patente

Resumen

Método para detectar e identificar errores en procesos de fabricación, en donde se monitoriza la evolución de una señal de seguimiento asociada a un parámetro de lectura del proceso, se delimita una zona de funcionamiento para dicha señal, y se detecta que hay un error en el proceso si dicha señal se sale de dicha zona. Además, se predeterminan una pluralidad de parámetros de error de la señal de seguimiento a calcular cuando se detecte un error y se predetermina un espacio multidimensional cuyas dimensiones son proporcionales al número de parámetros de error predeterminados. Cuando se detecta un error se determina el valor de dichos parámetros, se relacionan entre sí dichos valores obteniéndose un valor de error, se determina una posición espacial de dicho valor de error en el espacio multidimensional, y se determina un tipo de error asociado a dicha posición espacial.

INVENES: P201130082