Método y dispositivo para la detección y monitorización de ensuciamiento superficial

Resumen

La presente invención se refiere a un método para la detección y seguimiento de incrustaciones superficiales desde la nanoescala como herramienta de seguimiento predictivo o en tiempo real. La invención también se refiere a dispositivos para llevar a cabo dicho método y a usos de dicho método, en particular para optimizar los procedimientos de limpieza de dispositivos o componentes de los mismos contaminados por flujos de incrustaciones.