Microscopía electrónica
Tohoku University
Sendai, JapónPublicaciones en colaboración con investigadores/as de Tohoku University (3)
2021
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Paramagnetic spin Hall magnetoresistance
Physical Review B, Vol. 104, Núm. 13
2001
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Analysis of strain and defect formation in low-dimensional structures in SiC
Materials Science Forum, Vol. 353-356, pp. 259-262
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The structure of Si nanocrystals on SiC
Journal of Electron Microscopy, Vol. 50, Núm. 4, pp. 311-319