Layer-resolved vector magnetometry using generalized magneto-optical ellipsometry
- Martín Valderrama, C.
- Prieto, I.
- Quintana, M.
- Martínez-De-Guerenu, A.
- Berger, A.
Aldizkaria:
Applied Physics Letters
ISSN: 0003-6951
Argitalpen urtea: 2024
Alea: 125
Zenbakia: 2
Mota: Artikulua