Potential screening effects from support films in electron microscopy
- Echenique, P.M.
- Vinas, J.
- Howie, A.
- Ritchie, R.H.
Revista:
Journal of Physics D: Applied Physics
ISSN: 0022-3727
Ano de publicación: 1980
Volume: 13
Número: 7
Tipo: Artigo