Structural determination of two-dimensional YSi2 epitaxially grown on Si(111)
- Rogero, C.
- Polop, C.
- Magaud, L.
- Sacedón, J.L.
- De Andrés, P.L.L.
- Martín-Gago, J.A.
ISSN: 0163-1829
Año de publicación: 2002
Volumen: 66
Número: 23
Páginas: 2354211-2354217
Tipo: Artículo