Structural determination of two-dimensional YSi2 epitaxially grown on Si(111)
- Rogero, C.
- Polop, C.
- Magaud, L.
- Sacedón, J.L.
- De Andrés, P.L.L.
- Martín-Gago, J.A.
ISSN: 0163-1829
Datum der Publikation: 2002
Ausgabe: 66
Nummer: 23
Seiten: 2354211-2354217
Art: Artikel