Bi-Te Thin Film Produced by Ion Beam Sputtering: Impact of Beam Voltage in the Seebeck Coefficient

  1. Pires, A.L.
  2. Cruz, I.F.
  3. Ferreira-Teixeira, S.
  4. Resende, P.M.
  5. Pereira, A.M.
Revista:
Materials Today: Proceedings

ISSN: 2214-7853

Ano de publicación: 2017

Volume: 4

Número: 12

Páxinas: 12383-12390

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1016/J.MATPR.2017.10.007 GOOGLE SCHOLAR
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