Bi-Te Thin Film Produced by Ion Beam Sputtering: Impact of Beam Voltage in the Seebeck Coefficient
- Pires, A.L.
- Cruz, I.F.
- Ferreira-Teixeira, S.
- Resende, P.M.
- Pereira, A.M.
ISSN: 2214-7853
Any de publicació: 2017
Volum: 4
Número: 12
Pàgines: 12383-12390
Tipus: Aportació congrés