Determination of the free carrier concentration in atomic-layer doped germanium thin films by infrared spectroscopy

  1. Calandrini, E.
  2. Ortolani, M.
  3. Nucara, A.
  4. Scappucci, G.
  5. Klesse, W.M.
  6. Simmons, M.Y.
  7. Di Gaspare, L.
  8. De Seta, M.
  9. Sabbagh, D.
  10. Capellini, G.
  11. Virgilio, M.
  12. Baldassarre, L.
Revista:
Journal of Optics (United Kingdom)

ISSN: 2040-8986 2040-8978

Ano de publicación: 2014

Volume: 16

Número: 9

Tipo: Artigo

DOI: 10.1088/2040-8978/16/9/094010 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable