Determination of the free carrier concentration in atomic-layer doped germanium thin films by infrared spectroscopy

  1. Calandrini, E.
  2. Ortolani, M.
  3. Nucara, A.
  4. Scappucci, G.
  5. Klesse, W.M.
  6. Simmons, M.Y.
  7. Di Gaspare, L.
  8. De Seta, M.
  9. Sabbagh, D.
  10. Capellini, G.
  11. Virgilio, M.
  12. Baldassarre, L.
Revista:
Journal of Optics (United Kingdom)

ISSN: 2040-8986 2040-8978

Any de publicació: 2014

Volum: 16

Número: 9

Tipus: Article

DOI: 10.1088/2040-8978/16/9/094010 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible