Infrared nanoscopy of strained semiconductors
- Huber, A.J.
- Ziegler, A.
- Köck, T.
- Hillenbrand, R.
ISSN: 1748-3395, 1748-3387
Ano de publicación: 2009
Volume: 4
Número: 3
Páxinas: 153-157
Tipo: Artigo
ISSN: 1748-3395, 1748-3387
Ano de publicación: 2009
Volume: 4
Número: 3
Páxinas: 153-157
Tipo: Artigo