Infrared nanoscopy of strained semiconductors
- Huber, A.J.
- Ziegler, A.
- Köck, T.
- Hillenbrand, R.
ISSN: 1748-3395, 1748-3387
Argitalpen urtea: 2009
Alea: 4
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 153-157
Mota: Artikulua
ISSN: 1748-3395, 1748-3387
Argitalpen urtea: 2009
Alea: 4
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 153-157
Mota: Artikulua