Infrared nanoscopy of strained semiconductors
- Huber, A.J.
- Ziegler, A.
- Köck, T.
- Hillenbrand, R.
ISSN: 1748-3395, 1748-3387
Datum der Publikation: 2009
Ausgabe: 4
Nummer: 3
Seiten: 153-157
Art: Artikel
ISSN: 1748-3395, 1748-3387
Datum der Publikation: 2009
Ausgabe: 4
Nummer: 3
Seiten: 153-157
Art: Artikel