Infrared nanoscopy of strained semiconductors
- Huber, A.J.
- Ziegler, A.
- Köck, T.
- Hillenbrand, R.
ISSN: 1748-3395, 1748-3387
Any de publicació: 2009
Volum: 4
Número: 3
Pàgines: 153-157
Tipus: Article
ISSN: 1748-3395, 1748-3387
Any de publicació: 2009
Volum: 4
Número: 3
Pàgines: 153-157
Tipus: Article