Structure investigation of the topmost layer of a thin ordered alumina film grown on NiA1(1 1 0) by low temperature scanning tunneling microscopy

  1. Ceballos, G.
  2. Song, Z.
  3. Pascual, J.I.
  4. Rust, H.-P.
  5. Conrad, H.
  6. Bäumer, M.
  7. Freund, H.-J.
Revista:
Chemical Physics Letters

ISSN: 0009-2614

Año de publicación: 2002

Volumen: 359

Número: 1-2

Páginas: 41-47

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0009-2614(02)00578-X GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus