Structure investigation of the topmost layer of a thin ordered alumina film grown on NiA1(1 1 0) by low temperature scanning tunneling microscopy

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Revista:
Chemical Physics Letters

ISSN: 0009-2614

Año de publicación: 2002

Volumen: 359

Número: 1-2

Páginas: 41-47

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0009-2614(02)00578-X GOOGLE SCHOLAR