Recent advances in use of atomic layer deposition and focused ion beams for fabrication of fresnel zone plates for hard X-rays
- Keskinbora, K.
- Robisch, A.-L.
- Mayer, M.
- Grévent, C.
- Szeghalmi, A.V.
- Knez, M.
- Weigand, M.
- Snigireva, I.
- Snigirev, A.
- Salditt, T.
- Schütz, G.
ISSN: 1996-756X, 0277-786X
ISBN: 9780819497017
Año de publicación: 2013
Volumen: 8851
Tipo: Aportación congreso