Experimental and ab-initio investigation of the microstructure and optoelectronic properties of FCM–CVD-prepared Al-doped ZnO thin films

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Revista:
Applied Physics A: Materials Science and Processing

ISSN: 1432-0630 0947-8396

Año de publicación: 2019

Volumen: 125

Número: 9

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S00339-019-2947-4 GOOGLE SCHOLAR