Modelling of electron and hole trapping in oxides
- Shluger, A.L.
- McKenna, K.P.
- Sushko, P.V.
- Ramo, D.M.
- Kimmel, A.V.
ISSN: 0965-0393, 1361-651X
Año de publicación: 2009
Volumen: 17
Número: 8
Tipo: Artículo
Revista:
Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering