Modelling of electron and hole trapping in oxides
- Shluger, A.L.
- McKenna, K.P.
- Sushko, P.V.
- Ramo, D.M.
- Kimmel, A.V.
ISSN: 0965-0393, 1361-651X
Datum der Publikation: 2009
Ausgabe: 17
Nummer: 8
Art: Artikel
ISSN: 0965-0393, 1361-651X
Datum der Publikation: 2009
Ausgabe: 17
Nummer: 8
Art: Artikel