Transmission electron microscopy investigation of SiC films grown on SiC substrates by solid-source molecular beam epitaxy
- Kaiser, U.
- Khodos, I.
- Brown, P.D.
- Chuvilin, A.
- Albrecht, M.
- Humphreys, C.J.
- Fissel, A.
- Richter, W.
ISSN: 0884-2914
Datum der Publikation: 1999
Ausgabe: 14
Nummer: 8
Seiten: 3226-3236
Art: Artikel