Transmission electron microscopy investigation of SiC films grown on SiC substrates by solid-source molecular beam epitaxy

  1. Kaiser, U.
  2. Khodos, I.
  3. Brown, P.D.
  4. Chuvilin, A.
  5. Albrecht, M.
  6. Humphreys, C.J.
  7. Fissel, A.
  8. Richter, W.
Revista:
Journal of Materials Research

ISSN: 0884-2914

Any de publicació: 1999

Volum: 14

Número: 8

Pàgines: 3226-3236

Tipus: Article

DOI: 10.1557/JMR.1999.0436 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus