On the peculiarities of bright/dark contrast in HRTEM images of SiC polytypes

  1. Kaiser, U.
  2. Chuvilin, A.
  3. Richter, W.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Ano de publicación: 1999

Volume: 76

Número: 1-2

Páxinas: 21-37

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/S0304-3991(98)00069-2 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus