On the peculiarities of bright/dark contrast in HRTEM images of SiC polytypes

  1. Kaiser, U.
  2. Chuvilin, A.
  3. Richter, W.
Aldizkaria:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Argitalpen urtea: 1999

Alea: 76

Zenbakia: 1-2

Orrialdeak: 21-37

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/S0304-3991(98)00069-2 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus