On the peculiarities of bright/dark contrast in HRTEM images of SiC polytypes

  1. Kaiser, U.
  2. Chuvilin, A.
  3. Richter, W.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Any de publicació: 1999

Volum: 76

Número: 1-2

Pàgines: 21-37

Tipus: Article

DOI: 10.1016/S0304-3991(98)00069-2 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus