Defects in hexagonal SiC analyzed by molecular dynamics and HRTEM image simulations
- Biskupek, J.
- Kaiser, U.
- Chuvilin, A.
ISSN: 1431-9276
Ano de publicación: 2003
Volume: 9
Número: SUPPL. 3
Páxinas: 204-205
Tipo: Achega congreso
ISSN: 1431-9276
Ano de publicación: 2003
Volume: 9
Número: SUPPL. 3
Páxinas: 204-205
Tipo: Achega congreso