Defects in hexagonal SiC analyzed by molecular dynamics and HRTEM image simulations

  1. Biskupek, J.
  2. Kaiser, U.
  3. Chuvilin, A.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 9

Nummer: SUPPL. 3

Seiten: 204-205

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927603022001 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus