Defects in hexagonal SiC analyzed by molecular dynamics and HRTEM image simulations

  1. Biskupek, J.
  2. Kaiser, U.
  3. Chuvilin, A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Any de publicació: 2003

Volum: 9

Número: SUPPL. 3

Pàgines: 204-205

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1017/S1431927603022001 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus