Lattice parameter measurement by CBED: Accuracy limited by the noise
- Chuvilin, A.
- Kups, T.
- Kaiser, U.
ISSN: 1431-9276
Ano de publicación: 2003
Volume: 9
Número: SUPPL. 3
Páxinas: 356-357
Tipo: Achega congreso
Revista:
Microscopy and Microanalysis