Lattice parameter measurement by CBED: Accuracy limited by the noise

  1. Chuvilin, A.
  2. Kups, T.
  3. Kaiser, U.
Revue:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Année de publication: 2003

Volumen: 9

Número: SUPPL. 3

Pages: 356-357

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1017/S1431927603027028 GOOGLE SCHOLAR
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