Lattice parameter measurement by CBED: Accuracy limited by the noise

  1. Chuvilin, A.
  2. Kups, T.
  3. Kaiser, U.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 9

Nummer: SUPPL. 3

Seiten: 356-357

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927603027028 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus