Lattice parameter measurement by CBED: Accuracy limited by the noise

  1. Chuvilin, A.
  2. Kups, T.
  3. Kaiser, U.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Any de publicació: 2003

Volum: 9

Número: SUPPL. 3

Pàgines: 356-357

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1017/S1431927603027028 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus