Enhanced compositional contrast in imaging of nanoprecipitates buried in a defective crystal using a conventional TEM

  1. Kaiser, U.
  2. Chuvilin, A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Ano de publicación: 2003

Volume: 9

Número: 1

Páxinas: 36-41

Tipo: Artigo

DOI: 10.1017/S143192760303006X GOOGLE SCHOLAR
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