Quantitative Analysis of Electron Beam-Induced Destruction of Graphene Membranes under an Electron Microscope
- Eder, F.
- Meyer, J.C.
- Kurasch, S.
- Skakalova, V.
- Kotakoski, J.
- Krasheninnikov, A.
- Kaiser, U.
- Chuvilin, A.
ISSN: 1435-8115, 1431-9276
Año de publicación: 2012
Volumen: 18
Número: S2
Páginas: 1500-1501
Tipo: Artículo