Enhanced resolution in subsurface near-field optical microscopy

  1. Krutokhvostov, R.
  2. Govyadinov, A.A.
  3. Stiegler, J.M.
  4. Huth, F.
  5. Chuvilin, A.
  6. Carney, P.S.
  7. Hillenbrand, R.
Zeitschrift:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 20

Nummer: 1

Seiten: 593-600

Art: Artikel

DOI: 10.1364/OE.20.000593 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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