Accurate measurement of electron beam induced displacement cross sections for single-layer graphene

  1. Meyer, J.C.
  2. Eder, F.
  3. Kurasch, S.
  4. Skakalova, V.
  5. Kotakoski, J.
  6. Park, H.J.
  7. Roth, S.
  8. Chuvilin, A.
  9. Eyhusen, S.
  10. Benner, G.
  11. Krasheninnikov, A.V.
  12. Kaiser, U.
Zeitschrift:
Physical Review Letters

ISSN: 0031-9007 1079-7114

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 108

Nummer: 19

Art: Artikel

DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.108.196102 GOOGLE SCHOLAR