Comprehensive approach to MuGFET metrology

  1. Lorusso, G.F.
  2. Leray, P.
  3. Vandeweyer, T.
  4. Ercken, M.
  5. Delvaux, C.
  6. Pollentier, I.
  7. Cheng, S.
  8. Collaert, N.
  9. Rooyackers, R.
  10. Degroote, B.
  11. Jurczak, M.
  12. Biesemans, S.
  13. Richard, O.
  14. Bender, H.
  15. Azordegan, A.
  16. McCormack, J.
  17. Shirke, S.
  18. Prochazka, J.
  19. Long, T.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819461957

Any de publicació: 2006

Volum: 6152 I

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.656076 GOOGLE SCHOLAR