Reliable determination of the Cu/n-Si Schottky barrier height by using in-device hot-electron spectroscopy

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Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2015

Volumen: 107

Número: 18

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.4934885 GOOGLE SCHOLAR

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