Reliable determination of the Cu/n-Si Schottky barrier height by using in-device hot-electron spectroscopy
- Parui, S.
- Atxabal, A.
- Ribeiro, M.
- Bedoya-Pinto, A.
- Sun, X.
- Llopis, R.
- Casanova, F.
- Hueso, L.E.
Revista:
Applied Physics Letters
ISSN: 0003-6951
Año de publicación: 2015
Volumen: 107
Número: 18
Tipo: Artículo