Resistive switching in multiferroic BiFeO3 films: Ferroelectricity versus vacancy migration

  1. Cardona Rodríguez, A.
  2. Arango, I.C.
  3. Gomez, M.F.
  4. Dominguez, C.
  5. Trastoy, J.
  6. Urban, C.
  7. Sulekar, S.
  8. Nino, J.C.
  9. Schuller, I.K.
  10. Ramírez, J.G.
Revista:
Solid State Communications

ISSN: 0038-1098

Any de publicació: 2019

Volum: 288

Pàgines: 38-42

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.SSC.2018.11.005 GOOGLE SCHOLAR