Mapping VISIR Circuits for Computer-assisted Assessment
- Cuadros, J.
- Serrano, V.
- Lluch, F.
- Garcia-Zubia, J.
- Hernandez-Jayo, U.
Konferenzberichte:
Proceedings of 2021 World Engineering Education Forum/Global Engineering Deans Council, WEEF/GEDC 2021
ISBN: 9781665424882
Datum der Publikation: 2021
Seiten: 524-527
Art: Konferenz-Beitrag