Mapping VISIR Circuits for Computer-assisted Assessment
- Cuadros, J.
- Serrano, V.
- Lluch, F.
- Garcia-Zubia, J.
- Hernandez-Jayo, U.
Actes:
Proceedings of 2021 World Engineering Education Forum/Global Engineering Deans Council, WEEF/GEDC 2021
ISBN: 9781665424882
Any de publicació: 2021
Pàgines: 524-527
Tipus: Aportació congrés