Performance-Driven Metamorphic Testing of Cyber-Physical Systems

  1. Ayerdi, J.
  2. Valle, P.
  3. Segura, S.
  4. Arrieta, A.
  5. Sagardui, G.
  6. Arratibel, M.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 1558-1721,  0018-9529

Argitalpen urtea: 2023

Alea: 72

Zenbakia: 2

Orrialdeak: 827-845

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TR.2022.3193070 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus