Erratum: High-speed atomic force microscopy: Imaging and force spectroscopy (FEBS Lett. (2014) 588:19 (3631-3638))

  1. Eghiaian, F.
  2. Rico, F.
  3. Colom, A.
  4. Casuso, I.
  5. Scheuring, S.
Aldizkaria:
FEBS Letters

ISSN: 1873-3468 0014-5793

Argitalpen urtea: 2015

Alea: 589

Zenbakia: 12

Orrialdeak: 1389

Mota: Hutsen zuzenketa

DOI: 10.1016/J.FEBSLET.2015.04.027 GOOGLE SCHOLAR