Characterization Technique to Reveal Critical Resonances in Nonlinear RF Circuits

  1. Otegi, N.
  2. Collantes, J.-M.
  3. Lizarraga, I.
  4. Gonzalez, J.M.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 1557-9662,  0018-9456

Datum der Publikation: 2022

Ausgabe: 71

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TIM.2022.3170883 GOOGLE SCHOLAR
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