Nanosecond-range imprint and retention characterized from polarization-voltage hysteresis loops in insulating or leaky ferroelectric thin films
- Jiang, A.Q.
- Liu, X.B.
- Zhang, Q.
Zeitschrift:
Applied Physics Letters
ISSN: 0003-6951
Datum der Publikation: 2011
Ausgabe: 99
Nummer: 14
Art: Artikel
