New post-processing method for interpretation of through casing resistivity (TCR) measurements
- Chen, Q.
- Pardo, D.
- Li, H.-B.
- Wang, F.-R.
ISSN: 0926-9851
Argitalpen urtea: 2011
Alea: 74
Zenbakia: 1
Orrialdeak: 19-25
Mota: Artikulua
ISSN: 0926-9851
Argitalpen urtea: 2011
Alea: 74
Zenbakia: 1
Orrialdeak: 19-25
Mota: Artikulua