New post-processing method for interpretation of through casing resistivity (TCR) measurements
- Chen, Q.
- Pardo, D.
- Li, H.-B.
- Wang, F.-R.
ISSN: 0926-9851
Datum der Publikation: 2011
Ausgabe: 74
Nummer: 1
Seiten: 19-25
Art: Artikel
ISSN: 0926-9851
Datum der Publikation: 2011
Ausgabe: 74
Nummer: 1
Seiten: 19-25
Art: Artikel